ISO16232-7中文版清潔度檢測標準-清潔度測試顯微分析法

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1 范圍

本標準定義了用規(guī)定的光學顯微鏡（LM）或掃描電鏡（SEM）來確定污染物微粒（從部件上萃取而沉積在薄膜過濾器的表面）的粒度和數(shù)量的方法。測量結(jié)果為薄膜過濾器上的微粒粒度分布。
若零部件的功能會應某個或某些重要的微粒而削弱時，必須對整個薄膜過濾器的表面進行全面分析。
這些分析可以手動進行，或若有合適的設備可用的話，也可以利用圖像分析技術進行全自動分析。
注1 手動進行全表面計數(shù)是一項困難而累人的工作，而且容易出錯。因此，如果按本標準所描述的方法來準備薄膜過濾器的話，推薦使用自動計數(shù)系統(tǒng)。
注2 計數(shù)和粒度分級的結(jié)果取決于許多參數(shù)，如顯微鏡的類型和模型、放大率、光源和其它設置。

2 參考標準
以下參考文件是使用本文件所*的。對于有日期的參考文件，僅所引用的版本適用；對于沒有日期的參考文件，其版本（包括修正）適用。
ISO 16232-1，公路車輛——有流體循環(huán)的部件的清潔度—第1部分：術語
ISO 16232-2，公路車輛——有流體循環(huán)的部件的清潔度—第2部分：機械攪拌萃取污染物的方法
ISO 16232-3，公路車輛——有流體循環(huán)的部件的清潔度—第3部分：高壓沖洗萃取污染物的方法
ISO 16232-4，公路車輛——有流體循環(huán)的部件的清潔度—第4部分：超聲波技術萃取污染物的方法
ISO 16232-5，公路車輛——有流體循環(huán)的部件的清潔度—第5部分：功能試驗臺萃取污染物的方法
ISO 16232-10，公路車輛——有流體循環(huán)的部件的清潔度—第10部分：結(jié)果的表述
3 術語和定義
在ISO/DIS 16232-1中給出的術語和定義適用于本文件。
ISO/FDIS 16232-7: 2006 (E)
4 原理
根據(jù)ISO 16232-2、ISO 16232-3、ISO 16232-4和ISO 16232-5中所描述的方法，從測試部件上萃取微粒所用的所有萃取液體在薄膜過濾器上進行過濾，然后用顯微技術對分離的微粒進行計數(shù)和粒度分析。微粒的粒度由微粒的zui長尺寸決定。
圖1 － 微粒的zui長尺寸
光學顯微鏡利用微粒與薄膜過濾器表面的光對比來確定微粒粒度，這種對比主要通過調(diào)整亮度度（光線強度）而獲得。利用SEM進行微粒計數(shù)的基本原理是背散射電子強度的不同而形成材料對比。
注 因為探測機制是基于不同類型的對比，所以從光學顯微鏡和掃描電鏡所獲得的計數(shù)結(jié)果沒有可比性。
根據(jù)預測的污染物數(shù)量和清潔度規(guī)范中要求的相應粒度范圍來選擇過濾器和分析系統(tǒng)。

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